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晶圆表面缺陷检测系统
所检缺陷种类:孔洞、尺寸、位置;穿孔;颗粒污染;凹坑;水印;划伤;浅坑;CMP凸起 检测范围:8寸、12寸 图像分辨率:1.725um/像素 缺陷识别率:99% 检测视野大小:4.5mm x 3.5mm 最小可检孔洞缺陷大小:20um
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